Suportes de montagem de amostra de cobre | ||||||||||||||||||||||||||||||||||
Suportes de montagem de amostra de cobre
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Montagem de Pino SEM Padrão para Sistemas FEI/ZEISS | |||||||||||||||||||||||||||||||
Montagem de Pino SEM Padrão para Sistemas FEI/ZEISS
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Montagem Dividida de Amostra Fina | ||||||||||||||||||||||||||||||||||
Montagem Dividida de Amostra Fina
Montagens de pino SEM com divisões gravadas e numeradas para SEMs FEI/Philips, ZEISS/LEO, Cambridge, Leica, Amray, Tescan e Camscan.
O pino tem 3,2 mm (1/8") e 9 mm (3/8") de comprimento.
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Suportes de pinos múltiplos | ||||||||||||||||||||||
Suportes de pinos múltiplos
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Montagens de amostra de cilindro SEM | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Montagens de amostra de cilindro SEM
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Montagens de amostras SEM angulares para JEOL e ISI/ABT/Topcon | ||||||||||||||||||||||||||||
Montagens de amostras SEM angulares para JEOL e ISI/ABT/Topcon
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Montagem de Amostra de Cilindro | ||||||||||||||||
Montagem de Amostra de Cilindro
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Suportes de montagem de amostra de cobre | ||||||||||||||||||||||||||||||||||
Suportes de montagem de amostra de cobre
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